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芯片静电ESD测试,ESD\HBM\CDM\MM\LU

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发表于 2020-8-18 09:34:22 | 显示全部楼层 |阅读模式
找检测 小程序 二维码
芯片ESD/EOS测试

EOS/ESD造成的客退情形不曾间断,IC过电压承受能力较低,产品就有损坏风险。
    对成品厂商而言,除了要求IC供货商测试到所要求的ESD防护等级,对于所选用的IC,其承受EOS的能力也更加关注。

GRGT技术服务
广电计量(GRGT)能协助您进行测试 ,提供Test to Fail的验证与失效模式报告。藉此了解芯片组件脆弱点与静电承受度,作为您后续系统设计、芯片电路设计调整、甚至后续RMA失效分析的依据。
1. 人体放电模式(Human Body Mode)测试;
2. 机器放电模式(Machine Mode) 测试;
3. 组件充/放电模式(Charged Device Mode) 测试;
4. 制具式组件充/放电模式(Socket -Charge Device Mode) 测试;
5. 闩锁效应(Latch-up) 测试;
6. 静电放电闩锁测式(Transient-Induced Latch up);
7. 系统级静电放电模式 (System ESD Test–ESD GUN TEST);
8. 测试ESD I-V Curve量测;
9. 过度电性应力EOS (Electrical Overstress)测试;

参考规范
MIL-STD(美国军规标准)
EIA/JEDEC(固态技术协会规范)
AEC(汽车电子协会规范)
IEC(国际电工委员会)
JEITA(日本静电防护规章)
IC ESD参考 规 范
MIL-STD
JEDEC
AECQ
Other
HBM (Human Body Mode)
MIL-STD-883
JESD22-A114[size=12.0000pt]
JS-001 2017
AEC-Q100-002
[size=12.0000pt]
MM (Machine Mode)
[size=12.0000pt]
JESD22-A115[size=12.0000pt]
JESD22-A115
AEC-Q100-003
[size=12.0000pt]
SCDM (Socket CDM)
[size=12.0000pt]
[size=12.0000pt]
[size=12.0000pt]
ANSI/ESD SP5.3.2
CDM (Non-Socket)
[size=12.0000pt]
JS002-2018
AEC-Q100-011
EIA/ESDA-5.3.1
Latch-Up参考 规 范
MIL-STD
JEDEC
AECQ
Other
Room Temp. Test
[size=12.0000pt]
JESD-78
[size=12.0000pt]
[size=12.0000pt]
High Temp. Test
[size=12.0000pt]
JESD-78
AEC-Q100-004
[size=12.0000pt]
System ESD参考 规 范
MIL-STD
JEDEC
AECQ
Other
HBM (Human Body Mode)
[size=12.0000pt]
[size=12.0000pt]
AEC-Q200-002
IEC61000-4-2
GRGT目前具有以下芯片相关测试能力及技术服务能力:

芯片可靠性验证 ( RA)
芯片级预处理(PC) & MSL试验 、J-STD-020 & JESD22-A113 ;
高温存储试验(HTSL), JESD22-A103 ;
温度循环试验(TC), JESD22-A104 ;
温湿度试验(TH / THB), JESD22-A101 ;
高加速应力试验(HTSL / HAST), JESD22-A110;
高温老化寿命试验(HTOL), JESD22-A108;

芯片静电测试 ( ESD):
人体放电模式测试(HBM), JS001 ;
元器件充放电模式测试(CDM), JS002 ;
闩锁测试(LU), JESD78 ;
TLP;Surge / EOS / EFT;

芯片IC失效分析 ( FA):
光学检查(VI/OM) ;
扫描电镜检查(FIB/SEM)
微光分析定位(EMMI/InGaAs);
OBIRCH ;Micro-probe;

聚焦离子束微观分析(FIB)
弹坑试验(cratering) ;芯片开封(decap) ;
芯片去层(delayer);晶格缺陷试验(化学法);
PN结染色 / 码染色试验;
推拉力测试(WBP/WBS);红墨水试验:
PCBA切片分析(X-section);
芯片材料分析
高分辨TEM (形貌、膜厚测量、电子衍射、STEM、HAADF);
SEM (形貌观察、截面观察、膜厚测量、EBSD);
Raman (Raman光谱);AFM (微观表面形貌分析、台阶测量);
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